2020/1/20 11:09:49
全球领先的自动化测试解决方案供应商泰瑞达在美国马萨诸塞州北芮丁市宣布J750系列 半导体测试机台实现第6000台的发货。J750系列提供了涵盖微控制器（MCU），无线设备和图像传感器的晶圆测试和最终测试解决方案。Ardentec公司作为拥有最大的J750测试系统装机量的测试厂商之一，迎来了泰瑞达第6000台J750测试系统 。
泰瑞达J750系列提供了世界领先的汽车和消费应用类MCU产品测试解决方案，也是图像传感器测试的全球领导者。低成本产品的集成度不断增长，并已延伸到指纹传感器，MEMS和带有MCU无线功能的物联网（IoT）产品， J750测试系统的可扩展性使其成为这类产品的理想选择。
J750系列使用IG-XLTM软件平台进行操作， 可快速进行程序开发，并自动扩展以支持多站点测试，从而节省了大量的开发时间和成本。
泰瑞达J750系列是测试质量的行业标准，有效帮助半导体制造商追求零缺陷目标和多站点吞吐量的目标。 J750测试系统的装机量现已超过6000台，已经在50多个OSAT广泛运用，可支持用于晶圆测试和最终测试的整套量产解决方案。
泰瑞达的J750平台是对各种各样的微控制器，FPGA和数字音频/基带设备进行经济高效测试的行业标准。该系统的安装基数超过6,000个，可在50多个OSAT位置广泛使用，并且有一整套用于晶圆分类和最终测试的生产接口解决方案。
特点：泰瑞达将功耗和性能集成到紧凑，经济的J750系列半导体测试系统中。
低资本成本
-轻松地从目前的J750系统升级到J750Ex-HD
-“零占用空间”设计可最大限度地利用制造车间的空间
-用于快速程序开发的IG-XL™软件可自动扩展到多站点，从而节省开发时间和成本
应用
-微控制器
-FPGA
-数字音频/基带设备
-LCD驱动器，触摸屏传感器和触摸显示驱动器集成（TDDI）
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