2018/8/17 21:31:30
爱德万测试推出全球首发的最新 PCIe Gen 4 固态驱动器的整体测试解决方案
MPT3000 系统的最新扩展能力可以使固态驱动器制造商更快地将他们的产品推向市场
全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试推出了业界第一个完全集成的固态硬盘测试解决方案，该方案可以用于开发、调试以及量产 PCIe Gen 4 固态驱动器（SSD），并且 MPT3000 平台也可以同时兼容 PCIe Gen 3、SATA 和 SAS 等协议的固态硬盘的测试开发以及量产。这套全方位的新的测试解决方案可以使 SSD 制造商加快其新产品上市的时间。
MPT3000 平台现在可以覆盖 PCIe Gen 4 设备的所有测试需求——从支持工程使用的 MPT3000ES，到支持可靠性验证测试（RDT）的 MPT3000ENV，再到支持量产的 MPT3000HVM，用户可以在 MPT3000 上直接开发 PCIE Gen4，而不用等待第三方厂商提供测试方案。它向用户提供一套从设计到制造的测试流程，并使用与爱德万测试已经投入市场的 PCIe Gen 3 解决方案相同的测试架构和软件，从而简化了向下一代产品升级的过程。这一整体解决方案为 SSD 制造商提供了市场最快、风险最低的路径。
爱德万测试系统级测试副总裁 Colin Ritchie 提到：“为了解决各种各样的固态硬盘协议和形式因素问题，我们提供了模块化的 MPT3000 平台，可以验证和测试最新一代的 PCIe 存储器。在这种高度灵活的测试系统中，每一个 DUT（待测器件）独立测试架构和硬件加速使它成为一个单一的系统解决方案，可用于几乎所有的工程、批量生产和 BIST（内置的自测试）应用程序。”
MPT3000 PCIe Gen 4 产品现已上市，并开始出货。
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